STM
- 中文名
- 扫描隧道显微镜
- 外文名
- Scanning Tunneling Microscope
- 工作模式
- 恒电流模式,恒高度模式
- 缩写
- STM
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STM使人类第一次能够实时地观察单个
隧道针尖的结构是扫描隧道显微技术要解决的主要问题之一。针尖的大小、形状和化学同一性不仅影响着扫描隧道显微镜图象的分辨率和图象的形状,而且也影响着测定的电子态。
针尖的宏观结构应使得针尖具有高的弯曲共振频率,从而可以减少相位滞后,提高采集速度。如果针尖的尖端只有一个稳定的原子而不是有多重针尖,那么隧道电流就会很稳定,而且能够获得原子级分辨的图象。针尖的化学纯度高,就不会涉及系列势垒。例如,针尖表面若有氧化层,则其电阻可能会高于隧道间隙的阻值,从而导致针尖和样品间产生隧道电流之前,二者就发生碰撞 。
制备针尖的材料主要有
扫描隧道显微镜的工作原理简单得出乎意料。就如同一根唱针扫过一张唱片,一根探针慢慢地通过要被分析的材料(针尖极为尖锐,仅仅由一个原子组成)。一个小小的电荷被放置在探针上,一股电流从探针流出,通过整个材料,到底层表面。当探针通过单个的原子,流过探针的电流量便有所不同,这些变化被记录下来。电流在流过一个原子的时候有涨有落,如此便极其细致地探出它的轮廓。在许多的流通后,通过绘出电流量的波动,人们可以得到组成一个网格结构的单个原子的美丽图片。
利用一套电子反馈线路控制隧道电流 I ,使其保持恒定。再通过计算机系统控制针尖在样品表面扫描,即是使针尖沿x、y两个方向作二维运动。由于要控制隧道电流 I 不变,针尖与样品表面之间的局域高度也会保持不变,因而针尖就会随着样品表面的高低起伏而作相同的起伏运动,高度的信息也就由此反映出来。这就是说,STM得到了样品表面的三维立体信息。这种工作方式获取图象信息全面,显微图象质量高,应用广泛。
在对样品进行扫描过程中保持针尖的绝对高度不变;于是针尖与样品表面的局域距离将发生变化,隧道电流I的大小也随着发生变化;通过计算机记录隧道电流的变化,并转换成图像信号显示出来,即得到了STM显微图像。这种工作方式仅适用于样品表面较平坦、且组成成分单一(如由同一种原子组成)的情形。 从STM的工作原理可以看到:STM工作的特点是利用针尖扫描样品表面,通过隧道电流获取显微图像,而不需要光源和透镜。这正是得名“扫描隧道显微镜”的原因。
STM工作时,探针将充分接近样品产生一高度空间限制的电子束,因此在成像工作时,STM具有极高的空间分辨率,可以进行科学观测。
STM在对表面进行加工处理的过程中可实时对表面形貌进行成像,用来发现表面各种结构上的缺陷和损伤,并用表面淀积和刻蚀等方法建立或切断连线,以消除缺陷,达到修补的目的,然后还可用STM进行成像以检查修补结果的好坏。
引发化学反应
STM在场发射模式时,针尖与样品仍相当接近,此时用不很高的外加电压(最低可到10V左右)就可产生足够高的电场,电子在其作用下将穿越针尖的势垒向空间发射。这些电子具有一定的束流和能量,由于它们在空间运动的距离极小,至样品处来不及发散,故束径很小,一般为毫微米量级,所以可能在毫微米尺度上引起化学键断裂,发生化学反应。
移动,刻写样品
当STM在恒流状态下工作时,突然缩短针尖与样品的间距或在针尖与样品的偏置电压上加一脉冲,针尖下样品表面微区中将会出现毫微米级的坑、丘等结构上的变化。针尖进行刻写操作后一般并未损坏,仍可用它对表面原子进行成像,以实时检验刻写结果的好坏。
移动针尖进行刻写的办法主要有两种
①在反馈电路正常工作时,通过调节参考电流或偏置电压的大小来调节针尖与样品间的接触电阻,达到控制针尖移动的目的。当加大参考电流或减小偏压时为保证恒流工作,反馈将控制针尖移向样品,从而减小接触电阻。
②当STM处于隧道状态时,固定反馈线路的输出信号,关闭反馈,然后通过改变控制Z向运动的压电陶瓷上所加电压的大小来改变针尖与样品的间距,这种方法较前者能够更线性地控制隧道结宽度的变化,相对来说是较为理想的办法。
刻写的结果与针尖的清洁程度有密切关系。已经污染的针尖接触表面后将产生一小坑;未使用过的清洁的针尖接触表面则产生一小丘。清洁针尖在表面上产生小丘的原因是由于它与表面有粘接现象,此时若想使针尖与样品的间距恢复到与表面接触前的情况,针尖必须退回更多,这从另一个角度说明针尖的粘接已使表面产生一凸起部分。针尖的污染将会阻止它对表面的粘接,故使用过的针尖接触表面后将会刻出一个小坑,坑的周围还会有原先在坑内的原子翻出堆成的凸起边缘 。
室温下在Au及Ag等金属表面上刻写出的微细结构在室温下总是不稳定的,由于金属原子的扩散,这些结构最多在几小时内就会模糊以至消失。
在其他材料如Si(110)、Si(100)等表面上运用STM刻出稳定的结构却是可能的。刻写时,针尖向样品移进2nm时,小坑深(从边缘算起)0.7nm。在室温条件下及超高真空中,这些图形具有高稳定性,经很长时间后亦不发生变化。
STM可在金属玻璃上进行刻写操作,小丘的大小随偏压的增加而增加。产生小丘的原因通常认为是由于高电流密度引起了衬底的局部熔化,这些熔化物质在针尖负偏压产生的静电场作用下,会形成一突起的泰勒锥,电流去掉后,这个锥立即冷却下来,在表面上形成一小丘……并不是所有的表面都可如此形成小丘的。衬底的熔点决定了局部熔化时所需的热量;对于点源电子束,衬底实际获取热量不仅与电流密度有关,还取决于电子在其中的平均自由程及所用衬底的热传导系数;对于无序的金属化玻璃Rh25Zr75,由于电子在其中的平均自由程较晶体及多晶金属小一百倍,且熔点不是非常高,为1340K,因此电子束入射时其获取热量较多,相对较易被熔化,故容易在其上如此形成小丘。
与其他表面分析技术相比,STM具有如下独特的优点
①具有原子级高分辨率,STM 在平行于样品表面方向上的分辨率分
别可达0.1埃,即可以分辨出单个原子。
②可实时得到实空间中样品表面的三维图像,可用于具有周期性或不具备周期性的表面结构的研究,这种可实时观察的性能可用于表面扩散等动态过程的研究。
③可以观察单个原子层的局部表面结构,而不是对体相或整个表面的平均性质,因而可直接观察到表面缺陷。表面重构、表面吸附体的形态和位置,以及由吸附体引起的表面重构等。
④可在真空、大气、常温等不同环境下工作,样品甚至可浸在水和其他溶液中 不需要特别的制样技术并且探测过程对样品无损伤.这些特点特别适用于研究生物样品和在不同实验条件下对样品表面的评价,例如对于多相催化机理、超一身地创、电化学反应过程中电极表面变化的监测等。
⑤ 配合扫描隧道谱(STS)可以得到有关表面电子结构的信息,例如表面不同层次的态密度。表面电子阱、电荷密度波、表面势垒的变化和能隙结构等。
⑥利用STM针尖,可实现对原子和分子的移动和操纵,这为纳米科技的全面发展奠定了基础 。
尽管STM有着
1981年随着扫描隧道显微镜(scanning tunneling microscope)的发明,物理学家作出了一个突破,它为在苏黎世(Zurich)的
在扫描隧道显微镜(STM)观测样品表面的过程中,扫描探针的结构所起的作用是很重要的。如针尖的曲率半径是影响横向分辨率的关键因素;针尖的尺寸、形状及化学同一性不仅影响到STM图象的分辨率,而且还关系到电子结构的测量。因此,精确地观测描述针尖的几何形状与电子特性对于实验质量的评估有重要的参考价值。 扫描隧道显微镜(STM)的研究者们曾采用了一些其它技术手段来观察扫描隧道显微镜(STM)针尖的微观形貌,如SEM、TEM、FIM等。SEM一般只能提供微米或亚微米级的形貌信息,显然对于原子级的微观结构观察是远远不够的。虽然用高分辨TEM可以得到原子级的样品图象,但用于观察扫描隧道显微镜(STM)针尖则较为困难,而且它的原子级分辨率也只是勉强可以达到。只有FIM能在原子级分辨率下观察扫描隧道显微镜(STM)金属针尖的顶端形貌,因而成为扫描隧道显微镜(STM)针尖的有效观测工具。日本Tohoku大学的樱井利夫等人利用了FIM的这一优势制成了FIM-STM联用装置(研究者称之为FI-STM),可以通过FIM在原子级水平上观测扫描隧道显微镜(STM)扫描针尖的几何形状,这使得人们能够在确知扫描隧道显微镜(STM)针尖状态的情况下进行实验,从而提高了使用扫描隧道显微镜(STM)仪器的有效率。
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